KERN OLM 170 Metallurgische inversiemicroscoop, invallend licht, LED, trinoculair

Inverse geometrie voor de analyse van massieve vaste stoffen

Bij industriële materiaaltests, halfgeleiderinspectie en gietstukanalyse stellen zware, omvangrijke of asymmetrische monsters conventionele rechtopstaande microscoopsystemen voor onoplosbare mechanische problemen. De KERN OLM 170 maakt een einde aan deze beperkende ruimtelijke beperkingen dankzij zijn inverse (omgekeerde) systeemarchitectuur. De planachromatische objectieven en het focusmechanisme zijn fysiek onder de grootafmetige kruistafel geplaatst. Hierdoor kunnen massieve motorblokken, dikke staalplaten of zware printplaten rechtstreeks worden geplaatst zonder enige hoogtebeperking. Technisch gezien vermindert dit de voorbereidingsinspanning aanzienlijk: het werkstuk hoeft alleen aan de te microscoperende onderzijde absoluut vlak te worden geslepen en gepolijst. Een tijdrovende vlak-parallelle uitlijning van het gehele monster ten opzichte van de optische as is fysiek volledig overbodig.

Opto-elektronica van de LED-oplichtverlichting

In schril contrast met systemen met thermische halogeenstralers is de OLM 170 gebaseerd op de modernste halfgeleiderfysica. Het systeem is uitgerust met een krachtige, coaxiale 5-watt LED-oplichtverlichting. De lichtdiode zendt een zeer intens, absoluut flikkervrij en kleurneutraal fotonenspectrum uit met een uiterst lage warmteafgifte. Deze koude lichtbron voorkomt thermische uitzetting van de mechanische onderdelen van de microscoop (thermospatiale drift) en beschermt warmtegevoelige halfgeleiderwafers tegen thermomechanische spanning. Het coaxiale invallende licht wordt via een gedeeltelijk doorlatende straalsplitser nauwkeurig in de optische as gekeerd, doorloopt het objectief als condensor en wordt door het ondoorzichtige metalen oppervlak rechtstreeks in het buissysteem gereflecteerd.

Fysische precisie van de oneindige optiek

De metrologische basis van de OLM 170 wordt gevormd door het oneindig gecorrigeerde lenssysteem (Infinity Optics). De door het vaste-stofmonster gereflecteerde lichtgolven verlaten de objectieflens als parallelle bundels. Pas een in de trinoculaire microscoopkop ingebouwde tubuslens focust deze fotonen tot een scherp, reëel tussenbeeld. De fysieke ruimte van de parallelle straling tussen het objectief en de tubuslens maakt de vervormings- en aberratievrije integratie mogelijk van optische hulpstukken, zoals de meegeleverde polarisatie- en analysatoreenheid. Het systeem blijft daarbij volledig vrij van geïnduceerde chromatische aberraties of verschuivingen in de brandpuntsafstand.

Anisotropiedetectie en digitale metrologie

Bij het bekijken van hoogglansgepolijste metaalpreparaten met invallend licht leidt gericht licht onvermijdelijk tot sterke reflecties (schittering). De OLM 170 doorbreekt dit fenomeen met zijn geïntegreerde polarisatiesysteem. De polarisator dwingt de lichtgolven in een lineair trillingsvlak, terwijl de gekruiste analysator diffuse glansreflecties fysiek blokkeert. Dit maximaliseert het fasecontrast en maakt spanningsdubbele breking, microscheurtjes en heterogene legeringsgrenzen zichtbaar. Om deze structuren metrologisch te documenteren, beschikt de microscoop over een trinoculaire buis met een aan de achterzijde voorgemonteerde C-mount-adapter. Deze maakt de directe, uitgelijnde aansluiting van een digitale microscoopcamera mogelijk, terwijl een interne lichtverdeler (20:80) gelijktijdige inspectie via het oculair toestaat.

Technische details

• Optisch systeem: oneindig gecorrigeerd (Infinity Optics)
• Microscooptype: omgekeerde metallurgische microscoop
• Verlichtingstype: 5 W LED-epi-verlichting, traploos dimbaar
• Tubusuitvoering: trinoculair, 45° helling
• Lichtverdeling: 20:80 (oculair : camera)
• Objectieven: planachromatische LWD-optiek (Long Working Distance)
• Standaardvergrotingen: 5x, 10x, 20x, 50x (plan-objectieven)
• Oculairs: HWF 10x / Ø 20 mm (met dioptrie-instelling)
• Optische contrastversterking: inclusief polarisator- en analysatoreenheid
• Scherpstelling: coaxiale grof- en fijnverstelling (minimale fijnverstelling 0,002 mm)
• Camera-uitgang: vooraf gemonteerde C-mount-adapter aan de achterzijde van het apparaat
• Stroomvoorziening: Externe stekkernetvoeding (100-240 V)

Leveringsomvang

• 1 x KERN OLM 170 metallurgische inversiemicroscoop
• 4 x planachromatische LWD-objectieven (5x, 10x, 20x, 50x)
• 2 x HWF 10x breedveld-oculairen
• 1 x polarisatie- en analyse-eenheid
• 1 x Voorgemonteerde C-mount-adapter
• 1 x netvoeding (incl. landadapter)
• 1 x stofbeschermhoes
• 1 x Uitgebreide gebruiksaanwijzing

Individuele behoeften & accessoires

Het trinoculaire optische systeem met de reeds voorgemonteerde C-mount-adapter maakt de OLM 170 tot de ideale basis voor digitale metrologie. Om lengtes, oppervlakken of hoeken in uw slijpfoto’s tot op de pixel nauwkeurig te meten, raden wij de combinatie aan met een gekalibreerde digitale microscoopcamera (bijv. uit de KERN ODC-serie) en een geschikte objectmicrometer. Neem voor de opto-elektronische configuratie van uw meetwerkplek te allen tijde contact op met onze inkoopservice.